合能阳光新能源技术有限公司

太阳能电池组件在线检测各种缺陷和全自动测试仪系统

PV-LIT太阳能电池和组件在线检测系统可对太阳能电池及完整的太阳能组件的各种缺陷进行全自动检测。PV-LIT可以在线非接触快速稳定的连续检测生产过程中的产品，检测时间小于1秒钟。另外，客户... ...

无接触少子寿命及红外探伤综合微波高分辨率伤测量测试仪

MWR-2S-3I是一款功能异常强大的无接触少子寿命及红外探伤综合测试仪，能够对单晶硅棒、多晶硅块及硅片提供快速、无接触、伤、高分辨率的多功能扫描测试。一方面，其通过微波光电衰退特性... ...

太阳能硅片精准操作简单测厚仪HS-WTT

硅片测厚仪(HS-WTT 适用于量程范围内的硅片等各种材料的厚度测量。 ...

原生多晶硅材料锗单晶检测型号测试仪国产半导体

产品介绍: HS-PSTT原生多晶及硅芯型号测试仪是一款高端半导体材料型号测试仪器，具有大量程测试范围的特点，尤其适用于西门子法原生硅料生产企业的高阻硅料（含硅芯、检磷棒、检硼棒等）以... ...

RA2000圆度测试仪

RA2000是一种操作简便的测量仪，用于对工件的几何尺寸是圆度进行测量。此设备测量的准确性，为产品品质提供的保障。 ...

SD-300i晶片表面缺陷测试仪

SD-300i用于测定单晶材料的表面缺陷，适用于科研、工业生产等需求。该仪器还是一台半自动高定向仪，实现了缺陷和定向双功能。 ...

SS50AAA-PLC太阳模拟器

SS50AAA-PLC太阳模拟器是用来模拟太阳辐照度和频谱的设备。太阳模拟器广泛应用于太阳能电池特性测试，光电材料特性测试，生物化学相关测试，光学催化降解加速研究，皮肤化妆用品检测，环境研... ...

太阳能电池片数片机

太阳能电池片数片机，可对太阳能硅片及电池片进行准确计数分析。是一款简洁、、、的数片机。同时可配合barcode系统进行产品管理，避免数量不准确而带来的麻烦，避免公司品牌因为数量之差而蒙受损失。 ...

X2杂质含量测试仪

适合于对晶体进行杂质含量测试，其主要用途是对样品中包括Si、Fe、Mg、Ca、Ti、Na、Cu、Pb在内的多种个元素进行分析。 ...

硅料综合测试仪

本仪器是运用四探针测量原理的多功能综合测试装置，它可以测量片状、块状半导体材料的径向和轴向电阻率，适用于半导体及太阳能行业的筛选。 ...

HS-WDI-2000系列研究级数码金相显微镜

北京合能阳光新能源技术有限公司成功地设计开发出HS-WDI-2000型数码正置金相显微镜。选用优质的光学元件，使它具有出色的光学系统设计，可获得高清晰的显微图像，成像效果可与... ...

手动无接触硅片测试仪(HS-NCS-300)

产品介绍 手动硅片测试仪可以测量硅片厚度、总厚度变化TTV、弯曲度，该仪器适用于Si，GaAs，InP，Ge等几乎的材料，的设计都合ASTM(美国材料实验协会)和Semi标准，与其他工艺... ...

便携式LED光谱测试仪

便携式LED光谱测试仪,能准确测量照度，色标座，光谱图，光谱峰值，色温，CRI，主波长，CIE1931/CIE 1976色彩坐标等参数。主要运用与发光二管LED的颜色和亮度、LCD背光亮度、汽车仪器面板等... ...

无接触体电阻率型号测试仪（TRM-100）

HS-TRM-100型无接触式电阻率型号测试仪是基于涡流（Eddy Current）测试技术，能够对硅料、硅棒、硅锭及硅片进行无接触、伤的体电阻率测试。 ...

HS-T50无接触厚度TTV电阻率综合测试系统

HS-T50无接触厚度TTV电阻率综合测试系统是一款广泛应用于太阳能电池片制造过程中对表面厚度TTV电阻率测量的仪器。该仪器适用于Si，GaAs，InP，Ge等几乎的材料，的设计都合... ...

PVE300太阳能电池量子效率测试仪

PVE300为太阳能电池光谱响应测试，或称量子效率QE（Quantum Efficiency）测试，或光电转化效率E (Monochromatic Incident Photon-to-Electron Conversion Efficiency) 测试等，配备可选的... ...

无接触硅片厚度TTV电阻率综合测试系统(PV-1000)

PV-1000系列无接触硅片厚度TTV电阻率综合测试系统为太阳能/光伏硅片及其他材料提供快速、多通道的厚度、（总厚度变化）TTV、翘曲及无接触电阻率测量功能。并提供基于TCP/IP的数输接口及... ...

-C100晶球晶棒C面定向仪

-C100此型仪器是给毛坯晶锭定向及晶棒C面修磨的仪器。此设备晶体角度测量的准确性，为掏棒工艺控制提供的保障。 产品特点： ...

SW-A100晶片定向仪

SW-A100此型仪器是给晶片定向的仪器。用于晶棒切割后，进行晶片的角度测量。采用手工上下晶片，自动测量角度方式，可晶体角度测量的准确性。为切片工艺控制提供的保障。 ...

SI-E100晶棒参考边定向仪

SI-E100是对圆柱形晶体参考边定向的设备。此设备晶体角度测量的准确性，为产品品质提供的保障。 ...